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青島宇科新材料有限公司
| 聯(lián)系人：劉工
先生 (工程師) |
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手 機(jī)：13808992169  |
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| GIS斷路器漏氣維修 |
定量檢漏
定量檢漏法是用塑料袋將被測開關(guān)部件或整臺(tái)開關(guān)罩起來，經(jīng)過一定時(shí)間（例如數(shù)十小時(shí)）后，測量塑料袋內(nèi)的SF6氣體濃度，再根據(jù)塑料袋內(nèi)體積和包圍時(shí)間等參數(shù)來計(jì)算漏氣率。
定量檢漏有掛瓶檢漏法和局部包扎法，應(yīng)在充氣24h后進(jìn)行。可采用LDD2000型檢漏儀作為定量測量儀，使用安全方便，比較理想。定量測量的判斷標(biāo)準(zhǔn)為年漏氣率不大于1%。
運(yùn)行實(shí)踐證明，SF6斷路器易漏部位主要有：各檢測口、焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表連接管、密封底座等。而GIS設(shè)備的常見漏氣點(diǎn)有：焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表。
光學(xué)成像檢漏
光學(xué)成像法是近年來興起的一項(xiàng)新技術(shù)，比較成熟的方法有激光成像法和紅外成像法，二者都是利用SF6氣體的紅外吸收特性使泄漏氣體在視域內(nèi)清晰可見，能在設(shè)備帶電的情況下進(jìn)行檢測。
紅外成像法利用SF6氣體特定的紅外吸收光譜，能使泄漏氣體清晰可見，進(jìn)而可以在設(shè)備運(yùn)行的狀況下進(jìn)行檢漏，是一種較理想的檢漏手段。但在實(shí)際情況中由于GIS設(shè)備安裝特點(diǎn)，導(dǎo)致光學(xué)成像法也存在一定的缺點(diǎn)。例如由于室內(nèi)GIS設(shè)備安裝較為緊湊，對內(nèi)部的檢漏較為困難。對于室外GIS設(shè)備，由于安裝高度較高，也使得對設(shè)備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難，加上室外風(fēng)速、溫濕度等環(huán)境因素的影響，一些存在輕微滲漏的GIS設(shè)備就更難以用光學(xué)成像法檢測出來。
出現(xiàn)漏氣處理方式，其一，更換配件，更換密封、盆子、螺栓。第二利用青島宇科公司專業(yè)SF6修復(fù)產(chǎn)品進(jìn)行在線帶壓修復(fù)，可以在盆子開裂、密封損壞、殼體裂紋砂眼等情況下，直接進(jìn)行修復(fù)，宇科公司EGG修復(fù)系列為雙組份配比使用材料，具有優(yōu)良的粘接力及高分子特有的退讓性，可以適應(yīng)大范圍溫差變化，修復(fù)后可以漏氣點(diǎn)形成致密結(jié)實(shí)的修復(fù)層使用壽命可達(dá)10年，是一種成熟的修復(fù)技術(shù)�，F(xiàn)已廣泛用在GIS、GIL，電流互感器、斷路器等。 |
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