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蘇州華碧微科檢測技術(shù)有限公司
| 聯(lián)系人：楊浩
先生 (市場策劃專員) |
| 電 話：0512-6260-7604 |
手 機：18951112068  |
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| 科學(xué)與研究 |
華碧實驗室在電子元器件、微電子技術(shù)的質(zhì)量與失效分析方面完成了大量科研任務(wù)，為提供領(lǐng)先行業(yè)的技術(shù)服務(wù)積累了厚實的技術(shù)基礎(chǔ)。近些年來，隨著企業(yè)對電子產(chǎn)品壽命評估、工藝質(zhì)量改進、產(chǎn)品可靠性增長，為企業(yè)提供相關(guān)科研技術(shù)支撐和實際問題解決方案。
科研對象 Research Objects
大規(guī)模集成電路
線路板及線路板組件
混合集成電路及多芯片組件
光電器件
微波器件及組件
阻容元器件、繼電器、連接器
RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng)
Integrated Circuit
PCB & PCBA
Hybrid Integrated Circuit
Photoelectron Device
Microwave Device
Resistor, Capacitance, Relay, Connector
RoHS & Pollution Administration system
研究領(lǐng)域與方向 Research Areas
可靠性物理
失效模式、失效機理及其數(shù)理模型
可靠性設(shè)計與仿真技術(shù)
ESD設(shè)計
熱設(shè)計有限元仿真
生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù)
SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC
失效分析與材料分析技術(shù)
FIB、EB、SEM及其分析技術(shù)
可靠性測試、評價、試驗技術(shù)
先進電子封裝/組裝互連可靠性
高加速應(yīng)力試驗方法，極限應(yīng)力試驗方法
電子產(chǎn)品壽命評價
可靠性增長技術(shù)
基于失效物理 （PoF）的可靠性增長方案
Reliability Physics
Failure Mode & Failure Mechanism
Reliability Design and Simulation
ESD Design
FEA
Process Control
TCPI
Failure Analysis and Material Analysis
FIB、EB、SEM
Reliability Test, Evaluation
Reliability of Solder Joint for Assembly & package
HAST
Life Prediction
Reliability Growth
PoF Reliability Growth
科研成果 Achievements
RoHS及有害物質(zhì)控制管理系統(tǒng)
強大的可靠性數(shù)據(jù)庫
專業(yè)試驗設(shè)備研制
RoHS & Pollution Administration system
Reliability Datebase
Equipment Developmen |
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