ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統(tǒng)，系統(tǒng)IV曲線自動生成，也可根據(jù)實際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點建立，保證了數(shù)據(jù)的準確可靠。提供在線故障判斷，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試。通過USB或者RS232與電腦連接，以及人機界面操作，即可完成測試，并實現(xiàn)結(jié)果以Excel和Date的格式保存。
系統(tǒng)支持 Si 器件和 SiC 器件的靜態(tài)參數(shù)測試。
ENJ2005-C 功率器件圖示系統(tǒng)
測試參數(shù)：
漏電參數(shù)：IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
擊穿參數(shù)：BVCEO、BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益參數(shù)：hFE、CTR、gFS
導通參數(shù)：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
關(guān)斷參數(shù)：VGSOFF
觸發(fā)參數(shù)：IGT、VGT
保持參數(shù)：IH、IH+、IH-
鎖定參數(shù)：IL、IL+、IL-
混合參數(shù)：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
間接參數(shù)：IL
配置規(guī)格：
配置
規(guī)格/環(huán)境
主極電壓
1mV-2000V 尺 寸 450×570×280（mm）
電壓分辨率
1mV 質(zhì) 量 35kg
主極電流
0.1nA-100A 工作電壓 200V-240V
擴展電流
/ 電源頻率 47Hz-63Hz
電流分辨率
0.1nA 工作溫度 25℃-40℃
測試精度
0.2%+2LSB 通信接口 RS232 USB
測試速度
0.5mS/參數(shù) 系統(tǒng)功耗 <150w
測試范圍：
01
二極管 / DIODE
02
晶體管 / NPN型/PNP型
03
J型場效應(yīng)管 / J-FET
04
MOS場效應(yīng)管 / MOS-FET
05
雙向可控硅 / TRIAC
06
可控硅 / SCR
07
絕緣柵雙極大功率晶 |
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