安鉑leeb522超聲波探傷儀是一款增強型場致高亮全數(shù)字式超聲波探傷儀，它能夠快速便捷、無損傷、**地進行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。本儀器廣泛應用在：實驗室，工程現(xiàn)場檢測、各地特檢院、學�？蒲袉挝弧⒔ㄔO工程質(zhì)量檢測站、鍋爐壓力容器制造、電力行業(yè)、工程機械制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)制造、船舶制造、石油天然氣裝備制造等需要缺陷檢測和質(zhì)量控制的領域，也廣泛應用于軍工、航空航天、鐵路交通等領域的在役安全檢查與壽命評估。
安鉑leeb522超聲波探傷儀：
主要功能：
l 利用標準試塊自動生成DAC、AVG曲線，取樣點不受限制，并可進行補償與修正
l 自動顯示回波相關(guān)參數(shù)（深度D、水平P、距離S、波幅H）
l 自由切換三種標尺（深度D、水平P、距離S）
l 100個獨立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標準（可擴展）；
l 可存儲300幅A形圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l 自動計算缺陷當量φ值，峰值記憶功能；
l 兩種探測方式：峰值、邊沿；
l 三種探頭方式：單晶、雙晶、穿透；
l 自動匹配阻尼，智能化操作快速探傷，閘門自動報警；
l 可根據(jù)實際工件生成自定義探傷工藝，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。
產(chǎn)品特點
l 鋰電池供電，工作時間8小時；
l 堅固耐用，防水防塵，抗干擾能力優(yōu)良；
l 大屏幕高亮顯示，可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。
技術(shù)參數(shù): 標準配置:
名稱
技術(shù)數(shù)據(jù)
掃描范圍（mm）
0～6000
垂直線性誤差
≦3%
水平線性誤差
≦0.1%
探傷靈敏度余量
≧60dB（深200mmφ2平底孔）
動態(tài)范圍
≧32dB
分辨率
≧40dB
頻率范圍（MHz）
0.5～20
增益調(diào)節(jié)（dB）
0～120
材料聲速（m/s）
1000～9999
回波抑制
0～80%
工作溫度（℃）
-27～70
重量（Kg）
1.2
主機
1臺
直探頭
1支
斜探頭
1支
電源適配器
1個
BNC電纜
1個
leeb系列技術(shù)參數(shù)對照表：
leeb520
leeb521
leeb522
屏幕顯示
黑白
彩屏
彩屏
測量范圍
2.5~6000mm（鋼縱波）
垂直線性誤差
≤4%
動態(tài)范圍
≥32dB
≥32dB
≥34dB
水平線性誤差
≤0.2%
探傷靈敏度余量
≥50dB
≥56dB
≥60dB
通道
20
50
100
角度自動計算
否
有
有
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